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一拖五控温设备应用于半导体芯片测试

2023年10月8日产品案例 8720

一拖五控温设备应用于半导体芯片测试（images 1）

一拖五控温设备应用于半导体芯片测试（images 2）

一拖五控温设备应用于半导体芯片测试（images 3）

一拖五控温设备应用于半导体芯片测试（images 4）

配套使用的设备为：

一拖五控温设备应用于半导体芯片测试（images 5）

主要优势：
1.温控精度：±0.5℃；
2.实时监测待测元件真实温度；
3.针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件；
5.对测试机平台上的IC进行温度循环/冲击；
6.对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。

详情点击：https://www.cnzlj.com/xinpian/tes-85.html

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