电子测试热系统说明

电子测试热系统在芯片行业测试的作用，用户想必也有目共睹，那么，关于电子测试热系统，大家了解多少呢？

电子测试热系统利用基于数字信号处理的测试技术来测试混合信号芯片与传统的测试技术相比有许多优势，能把各个频率的信号分量区分开来(也就是能把噪声和失真从测试频率或者其它频率分量中分离出来)，所以能增加测试的精度和可重复性。能使用很多数据处理函数，比如说求平均数等，这对混合信号测试非常有用。

电子测试热系统常见的混合信号芯片有：模拟开关，它的晶体管电阻随着数字信号变化；可编程增益放大器，能用数字信号调节输入信号的放大倍数；数模转换电路；模数转换电路；锁相环电路，常用于生成高频基准时钟或者从异步数据流中恢复同步时钟。

电子测试热系统接触性测试(短路开路测试)用于保证电子测试热系统到芯片接口板的所有电性连接正常，漏电流测试是指测试模拟或数字芯片高阻输入管脚电流，或者是把输出管脚设置为高阻状态，再测量输出管脚上的电流。尽管芯片不同，漏电流大小会不同，但在通常情况下，漏电流应该小于1uA。

电子测试热系统每个电源管脚消耗的电流是发现芯片是否存在灾难性缺陷的较快方法之一。每个电源管脚被设置为预定的电压，接下来用自动测试设备的测量单元测量这些电源管脚上的电流。这些测试一般在测试程序的开始时进行，以快速有效地选出那些完全失效的芯片。电源测试也用于保证芯片的功耗能满足终端应用的要求。

不同厂家的电子测试热系统在性能以及配置上面是有所区别的，用户可根据自己的需求以及工况进行选择。（内容来源网络，如有侵权，请联系删除，谢谢。）